利用有限元分析方法對SCSP器件內部粘結劑的溢出問(wèn)題進(jìn)行了研究.對粘結劑不同溢出高度的模型進(jìn)行有限元建模分析,模擬結果能很好地和實(shí)驗結果相吻合.為了有效減少由熱應力引發(fā)產(chǎn)生的分層,模擬得到了粘結劑溢出高度的最佳控制范圍.
doi:
10.3969/j.issn.1674-4926.2004.02.021
關(guān)鍵詞:
SCSP 溢出高度 分層 有限元方法
作者:
金瑋 桑文斌 張奇 滕建勇
作者單位:
上海大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院,上海,201800
刊名:
半導體學(xué)報
Journal:
CHINESE JOURNAL OF SEMICONDUCTORS
年,卷(期):
2004, 25(2)
所屬期刊欄目:
研究論文
分類(lèi)號:
TN306
在線(xiàn)出版日期:
2004年03月25日(萬(wàn)方平臺首次上網(wǎng)日期,不代表論文的發(fā)表時(shí)間)
頁(yè)數:
共5頁(yè)
頁(yè)碼:
232-236
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